TMI
Testometric
IGT
Konica Minolta
MOCON
EMTEC
AFG
Отрасли
Поиск оборудования
Бумага, картон, целлюлоза
Готовая упаковка
Гофрированный картон
Комбинированные материалы
Пластики, полимерные пленки
Полиграфия
Прочие
Контакты
отрасли/материалы
...................................................................................................................................................
Бумага, картон, целлюлоза
Готовая упаковка
Гофрированный картон
Комбинированные материалы
Пластики, полимерные пленки
Полиграфия
Прочие
свойства материалов
...................................................................................................................................................
Барьерные
Герметичность (сварных швов и упаковки)
Заряд бумажной массы
Мягкость тишью, тканных и нетканных материалов
Оптические свойства
Оценка сварного шва
Печатные
Поверхностные
Потребительские
Пробоподготовка
Специальные
Структурно-размерные
Технологические
Физико-механические
Фильтрационные
Цветовые характеристики
Экспресс-анализ
измеряемые величины
...................................................................................................................................................
Влажность
Воздухопроницаемость
Впитываемость
Гладкость по Бекку
Гладкость по Паркеру
Деформационные
Дзета-потенциал
Динамика роста биоотложений
Жесткость
Заряд частиц
Катионная/анионная потребность
Концентрация волокнистой массы
Коэффициент трения
Липкость
Неравномерность намотки
Обезвоживание и удержание
Относительное удлинение/сжатие
Показатель текучести расплава (ПТР)
Пористость
Предел текучести
Предел упругости
Прозрачность
Проницаемость по отношению к водяному пару
Проницаемость по отношению к кислороду
Проницаемость по отношению к углекислому газу
Прочность на расслаивание
Прочность сварного шва
Прочность сварного шва в горячем состоянии
Пылимость
Размол
Разрывная длина
Разрывной вес
Сила трения
Склеиваемость
Содержание кислорода
Сопротивление изгибу
Сопротивление продавливанию
Сопротивление раздиранию
Сопротивление сжатию
Сопротивление сжатию на коротком расстоянии
Способность к импрегнации
Способность к переработке
Срок годности
Степень помола
Степень проклейки
Стойкость поверхности к выщипыванию
Стойкость поверхности к истиранию
ТЕА-индекс
Толщина
Фракционный состав волокнистой массы
Шероховатость по Бендсену
названия приборов
...................................................................................................................................................
Анализатор кислорода
Анализатор СО
Анализатор СО2
Аппарат Шоппер Риглера
Влагомер
Газоанализатор состояния внутри упаковки
Гофрообразователь
Дезинтегратор (лабораторная мешалка)
Дензометер Герлея
Игла Смита
Колориметр
Лабораторная термосварочная машина
Липкомер
Листоотливной аппарат
Оборудование для размола
Палочки Деннисона
Пресс
Прибор на определение заряда частиц
Прибор на сжатие по SCT
Прибор Эльмендорфа
Пробопечатные устройства IGT
Программное обеспечение
ПТР
Разрывная машина
Скоростная сушка
Спектрорадиометр
Спектрофотометр
Стойкость поверхности к истиранию
Толщиномер
Универсальная испытательная машина
Фракционатор BAUER-McNETT
Фракционатор костры
06.04.2009
23-24 апреля 2009 года состоялась III международная научно-практическая конференция "Современное состояние и перспективы развития гофроиндустрии в условиях кризиса", в институте комплексного развития "Крона", Санкт-Петербург. Ведущий проф. д.т.н. Смолин А
11.03.2009
26-27 марта 2009 года состоялась научно-практическая конференция "Водопользование в технологии, экологии, энергетике и экономике предприятия", в институте комплексного развития "Крона", Санкт-Петербург. Ведущий проф. д.т.н. Смолин А.С.
26.12.2008
22.01.2009 состоялся семинар «Новые современные методы контроля свойств бумаги и их практическое применение» в Московском государственном университете печати (МГУП), ведущая проф. д.т.н. Климова Е.Д.
17.12.2008
27-30 января 2009 года Сигма Микрон приняла участие в 12-той международной специализированной выставке "Интерпластика 2009", которая состоялась в ЦВК "Экспоцентр", Москва. Наш стенд был 8.3.А01, павильон 8, зала номер 3.
19.11.2008
11-12 декабря 2008 года Сигма Микрон приняла участие в научно-практической конференции "Химия в ЦБП", которая состоялась в институте комплексного развития и обучения "Крона".
страницы:
1
2
3
Новости
|
Статьи
|
О компании
|
Контакты
Санкт-Петербург, ул. Седова, д. 11, оф. 607
e-mail:
mail@sigma-micron.ru
Создание сайта
Extreme Design Group